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SMD-LED 散装器件高速测试供料机构

俊光 何(广东畅达智造技术有限公司,中国)
长青 贵(广东畅达智造技术有限公司,中国)
静 李(广东畅达智造技术有限公司,中国)
云飞 蒋(广东畅达智造技术有限公司,中国)
玉涛 赵(广东畅达智造技术有限公司,中国)

摘要

生产SMD-LED的过程中,每一枚SMD-LED所采用的原料与制造工艺均有所不同,因此造成了SMD-LED在电性能、光学特性和色彩参数方面的显著差异性。各个领域对于特定SMD-LED在电性能指标、发光特性以及色彩度量方面的标准各不相同,所以在SMD-LED制造结束时,必须对它们的电性能、光特性和色度进行检测,并按照检验成果将它们进行分级。针对该问题,本研究设计了一种SMD-LED散装器件高速测试供料机构,希望能为相关人员提供参考。

关键词

SMD-LED散装器件;高速测试;供料机构

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参考

周光杰,余振涛.一种全自动散装电子元器件分拣外观检测测试包装设备:CN202110749636.6[P].CN113415485B[2024-06-10].

李志刚,杜磊,张小宁.半导体光电子元器件技术现状与趋势分析[J].消费电子,2023(11):41-43.

A·格诺伊佩尔.用于对被测器件进行测试的具有汇流条机构的探针台.CN202010078415.6[2024-06-10].

邹海方,彭学敏,陈燕峰,等.一种元器件抬升机构及测试设备:CN202320117950.7[P].CN219533216U[2024-06-10].

迟延庆.用于半导体器件高压测试装置的辅助机构和测试方法:CN202210426585.8[P].CN202210426585.8[2024-06-10].



DOI: http://dx.doi.org/10.12345/gcjsygl.v8i10.19788

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