射线底片伪缺陷产生原因及识别方法
摘要
射线探伤底片质量的好坏,严重影响底片结果的评定,伪缺陷的识别错误,造成不必要的返修和重复探伤,在时间和材料上给工程施工造成很大的浪费。论文从射线底片伪缺陷的产生时机,详细分析了射线底片冲洗前、洗片过程中以及冲洗完成后可能产生伪缺陷的原因及识别方法,为有效地控制伪缺陷的产生和提高射线探伤底片的质量提供可靠的保证。
关键词
射线底片;伪缺陷;识别方法
全文:
PDF参考
NB/T47013.2—2015.承压设备无损检测[M].北京:新华出版社出版,2015.
强天鹏.射线探伤[M].北京:中国劳动出版社出版,2011.
屠耀元.射线探伤技术[M].北京:世界图书出版社,1997.
DOI: http://dx.doi.org/10.12345/gcjsygl.v5i19.8714
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